专用光束分析系统
BEAM PROFILER SYSTEM
除了相机型光束质量分析仪,还提供狭缝扫描光束分析仪,可以测量多个Z平面的XY强度分布,计算光斑直径和质心,从而实现实时测定和调整。除此之外,还提供了专用光束分析仪系统,这些系统为复杂的应用提供了相应的解决方案,大光束分析系统适用于**图像区域为 200mm的光束,而线激光轮廓系统可直接测量长达 200mm的线激光。