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塞曼效应实验装置

BEX-8501

紧凑型设计
采用电磁场,可获得0~1.2T的匀强磁场, 并可以120度旋转
高达1/100λ的法布里-帕罗标准具
可获得K级至K-2级的9条分裂谱线
CE认证

产品介绍
技术参数
用户资源
订购指引

描述

该实验装置以汞灯546.1nm谱线为对象,研究塞曼效应。汞灯发出的谱线经过汇聚透镜,将发散的光线适当地汇聚,透过偏振片,经过滤光片滤光后形成单色光,进入F-P标准具,形成干涉圆环,最后由镜头和CMOS相机成像。该装置包含一个可调恒流电源,通过调节电流控制磁场的大小。当磁场足够强时,能级开始分裂,产生不同的谱线,每一级干涉圆环分裂成多个干涉圆环,由专业的软件进行图像采集和数据分析,得到电子荷质比e/m的数值。当将电磁线圈旋转90度时,重新微调光路,则可以平行于磁场方向观测塞曼效应。


紧凑型设计

采用工业级高强度轨道,配合精巧的光机械设计,比传统的装置至少减少了1/3的空间。


采用电磁场,可获得0~1.2T的匀强磁场, 并可以120度旋转

电磁线圈为整套装置提供连续可调的0-1.2T的匀强磁场,并有0-120度可旋转结构,可以对横向及纵向塞曼效应现象进行观测。



高达1/100λ的法布里-帕罗标准具,可获得K级至K-2级的9条分裂谱线

F-P标准具的性能保证了谱线分裂明显,线条清晰锐利



CE安全认证

通过欧盟CE安全认证,严格按照CE标准进行品质控制。



软件功能

链接:塞曼效应软件


典型实验内容及数据

# 垂直于磁场方向观测塞曼效应(Л线 )



# 平行于磁场方向观测塞曼效应(σ线)



# 根据K级至K-2级的9条分裂谱线,可验证荷质比 e/m.

荷质比 e/m 测量结果的相对误差小于 5%。

技术参数

部件 技术参数
摄像单元

焦距50mm,相对孔径1:1.4

尺寸1/3”,COMS Sensor,像素640×480,水平扫面线650tvl。

通过USB2.0与电脑通信,实现USB直接供电,并能方便、快捷的数据采集需要。

聚光镜 f=131.2mm
干涉滤光片 中心波长为546.1nm,孔径为32mm,表面无污染,裂纹等
精密调节架 Φ45mm, 2D
水平可调精密调节架 Φ45mm, Travel=36mm , 3D
法布里泊罗标准具 中心波长为546.1nm,分裂条纹应锐利清晰


部件列表

描述 型号 数量
摄像单元(含镜头、CMOS相机), f=50mm, 两百万像素 BEM-5008 1
法布里泊罗标准具, 546.1nm BEM-5402 1
干涉滤光器, 546.1nm BEM-5403 1
偏振器 BEM-5404 1
聚光镜, f=131.2mm BEM-5405 1
精密调节架, Φ45mm, 2D BEM-5203 1
水平可调精密调节架, Φ45mm, Travel=36mm , 3D BEM-5213 1
导轨,长 600mm BEM-5201-06 1
托板,宽 50mm BEM-5204-50 3
升降调节架,可调范围 25mm BEM-5205-25 3
连接杆,长 90mm BEM-5209-09 3
笔形汞灯, 10A, 3W BEM-5009 1
电磁线圈, 5A, 1.2T BEM-5010 1
连接块 BEM-5202 1
可调直流恒流源, 6A BEM-5012 1

包装清单

实验装置1套(详见部件清单),电源线1根,红黑导线各1根,USB线1根,软件光盘1张,手册1本。


选配件

描述 型号
特斯拉计,0-2000mT, 精度0.1mT BEM-5032

2943482228